Современные подходы к исследованию тонких пленок и монослоев: рентгеновская рефлектометрия, рассеяние в скользящих углах отражения и метод стоячих рентгеновских волн / М. А. Щербина [и др.] //  Успехи химии. – 2014. – № 12. – С. 1091.


Место хранения: ЧЗГиЕН

Все авторы:
Щербина, М. А. Чвалун, С. Н. Пономаренко, С. А. Ковальчук, М. В.

Ключевые слова:
тонкопленочные покрытия  
рентгеновская рефлектометрия  
рассеяние в скользящих углах отражения