Кузнецов, Г. В. Анализ показателей надежности типичного полупроводникового устройства силовой электротехники / Г. В. Кузнецов, Е. В. Кравченко, Н. А. Прибатурин // Электротехника. – 2016. – № 4. – С. 60-65.
Место хранения:
ЧЗТН
Все авторы:
Кравченко, Е. В. Прибатурин, Н. А.
Ключевые слова:
силовые полупроводниковые приборы
прогнозирование надежности
тепловое состояние