Search Frame v1.2

  Версия для печати



Вернуться к списку 

Перв.  Пред.  20931-20940  20941  20942  20943  20944  20945  20946  20947  20948  20949  20950  20951-20960  След.  Послед. 

Кузнецов, М. В. Ренгеновская фотоэлектронная дифракция и фотоэлектронная голография как методы исследования локальной атомной структуры поверхности твердых тел / М. В. Кузнецов, И. И. Огородников, А. С. Ворох //  Успехи химии. – 2014. – № 1. – С. 13-37.


Место хранения: ЧЗГиЕН

Все авторы:
Огородников, И. И. Ворох, А. С.

Ключевые слова:
фотоэлектронная дифракция  
фотоэлектронная голография  
поверхность твердых тел  
  
  
  
  
  
  
  


Еще статьи из этого номера

Перв.  Пред.  20931-20940  20941  20942  20943  20944  20945  20946  20947  20948  20949  20950  20951-20960  След.  Послед. 

 

НТБ КузГТУ 2010-2014