Search Frame v1.2

  Версия для печати



Вернуться к списку 

Перв.  Пред.  31991-32000  32001  32002  32003  32004  32005  32006  32007  32008  32009  32010  32011-32020  След.  Послед. 

 Масс-спектральные методы прямого элементного и изотопного анализа твердотельных материалов : обзор / А. А. Ганеев [и др.] //  Успехи химии. – 2016. – Т. 85, № 4. – С. 427-444.


Место хранения: ЧЗГиЕН

Все авторы:
Ганеев, А. А. Губаль, А. Р. Потапов, С. В. Агафонова, Н. Н. Немец, В. М.

Ключевые слова:
масс-спектральные методы  
изотопный анализ твердых веществ  
элементный анализ твердых веществ  
масс-спектометрия искровая  
масс-спектометрия с лазерной абляцией  
масс-спектометрия с лазерной ионизацией  
масс-спектометрия вторичных ионов  
масс-спектометрия вторичных нейтралей  
масс-спектометрия тлеющего разряда  
масс-спектометрия с индуктино связанной плазмой  


Еще статьи из этого номера

Перв.  Пред.  31991-32000  32001  32002  32003  32004  32005  32006  32007  32008  32009  32010  32011-32020  След.  Послед. 

 

НТБ КузГТУ 2010-2014