Search Frame v1.2

  Версия для печати



Вернуться к списку 

Перв.  Пред.  26231-26240  26241  26242  26243  26244  26245  26246  26247  26248  26249  26250  26251-26260  След.  Послед. 

 Современные подходы к исследованию тонких пленок и монослоев: рентгеновская рефлектометрия, рассеяние в скользящих углах отражения и метод стоячих рентгеновских волн / М. А. Щербина [и др.] //  Успехи химии. – 2014. – № 12. – С. 1091.


Место хранения: ЧЗГиЕН

Все авторы:
Щербина, М. А. Чвалун, С. Н. Пономаренко, С. А. Ковальчук, М. В.

Ключевые слова:
тонкопленочные покрытия  
рентгеновская рефлектометрия  
рассеяние в скользящих углах отражения  
  
  
  
  
  
  
  


Еще статьи из этого номера

Перв.  Пред.  26231-26240  26241  26242  26243  26244  26245  26246  26247  26248  26249  26250  26251-26260  След.  Послед. 

 

НТБ КузГТУ 2010-2014