Search Frame v1.2

  Версия для печати



Вернуться к списку 

Перв.  Пред.  33241-33250  33251  33252  33253  33254  33255  33256  33257  33258  33259  33260  33261-33270  След.  Послед. 

Кузнецов, Г. В. Анализ показателей надежности типичного полупроводникового устройства силовой электротехники / Г. В. Кузнецов, Е. В. Кравченко, Н. А. Прибатурин  //  Электротехника. – 2016. – № 4. – С. 60-65.


Место хранения: ЧЗТН

Все авторы:
Кравченко, Е. В. Прибатурин, Н. А.

Ключевые слова:
силовые полупроводниковые приборы  
прогнозирование надежности  
тепловое состояние  
  
  
  
  
  
  
  


Еще статьи из этого номера

Перв.  Пред.  33241-33250  33251  33252  33253  33254  33255  33256  33257  33258  33259  33260  33261-33270  След.  Послед. 

 

НТБ КузГТУ 2010-2014